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晶圓級芯片可靠性測試後高電阻值異常如何詢失效點?

所謂的WLCSP晶圓級芯片尺寸封裝,全名WaferLevelChipScalePackaging,是指,直接將整片晶圓級封裝製程完後,再進行切割,切完後封裝體的尺寸等於原來晶粒的大小,後續利用重分布層(RDL),可直接將I/O拉出陣列錫球與PCB做連接。

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