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電子設備<i style='color:red'>熱循環失效機理</i>

電子設備熱循環失效機理

熱循環導致焊點合金內部產生熱應力-應變循環,同時引發焊點金屬學組織的演化(晶粒組織變粗糙)。力學和金屬學因素的共同作用,導致宏觀表象為焊點裂紋的萌生與擴展,引起電信號傳輸失真的失效現象。隨著疲勞損傷累積,焊點的疲勞壽命消耗大約25%到50%之後,在晶粒交界處形成微孔洞,這些微孔洞增長形成微裂紋,進一步增長並聚集成大裂紋。

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